• English
    • français
  • Aide
  •  | 
  • Contact
  •  | 
  • À Propos
  •  | 
  • Ouvrir une session
  • Portail HAL
  •  | 
  • Pages Pro Chercheurs
  • EN
  •  / 
  • FR
Voir le document 
  •   Accueil de LillOA
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • Voir le document
  •   Accueil de LillOA
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • Voir le document
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Nanofils de Si et sonde atomique tomographique
  • BibTeX
  • CSV
  • Excel
  • RIS

Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/51932
Titre :
Nanofils de Si et sonde atomique tomographique
Auteur(s) :
Houard, J. [Auteur]
Lardé, R. [Auteur]
Cadel, E. [Auteur]
Pareige, P. [Auteur]
Hourlier, D. [Auteur]
Stiévenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
Journées du GDR Nanofils Nanotubes Semiconducteurs
Ville :
Villeneuve d'Ascq
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2006
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Date de dépôt :
2021-07-27T20:56:13Z
Université de Lille

Mentions légales
Université de Lille © 2017