Nanofils de Si et sonde atomique tomographique
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
URL permanente :
Titre :
Nanofils de Si et sonde atomique tomographique
Auteur(s) :
Houard, J. [Auteur]
Lardé, R. [Auteur]
Cadel, E. [Auteur]
Pareige, P. [Auteur]
Hourlier, D. [Auteur]
Stiévenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lardé, R. [Auteur]
Cadel, E. [Auteur]
Pareige, P. [Auteur]
Hourlier, D. [Auteur]
Stiévenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
Journées du GDR Nanofils Nanotubes Semiconducteurs
Ville :
Villeneuve d'Ascq
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2006
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :
Date de dépôt :
2021-07-27T20:56:13Z