Analysis of low frequency drain current ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/52022
Title :
Analysis of low frequency drain current noise in AlGaN/GaN HEMTs on Si substrate
Author(s) :
Malbert, N. [Auteur]
Labat, N. [Auteur]
Curutchet, A. [Auteur]
Touboul, A. [Auteur]
Gaquiere, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Minko, A. [Auteur]
Publisher :
World Scientific Publishing
Publication date :
2004
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
Submission date :
2021-07-27T21:04:57Z