Crystallographic and optical properties ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Crystallographic and optical properties of epitaxial Pb(Zr-0.6,Ti-0.4)O-3 thin films grown on LaAlO3 substrates
Auteur(s) :
Vilquin, B. [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Bouregba, R. [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Poullain, G. [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Murray, H. [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Bouregba, R. [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Poullain, G. [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Murray, H. [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Journal of Applied Physics
Pagination :
5167-5171
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2003
ISSN :
0021-8979
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Chimie/Cristallographie
Chimie/Cristallographie
Résumé en anglais : [en]
Pb(Zr0.6,Ti0.4)O3 (PZT) thin films are grown in situ on LaAlO3 substrates by rf magnetron sputtering. The relationship between structural and optical properties is investigated as a function of growth temperature. The ...
Lire la suite >Pb(Zr0.6,Ti0.4)O3 (PZT) thin films are grown in situ on LaAlO3 substrates by rf magnetron sputtering. The relationship between structural and optical properties is investigated as a function of growth temperature. The ferroelectric films exhibit satisfying crystallization with epitaxial growth from 475 °C. The optical refractive index value is 2.558, in agreement with the bulk value. The films show homogeneous structure and the squarelike shape of the index profile along with the PZT thickness suggests a good interface quality with the substrate. The crystallographic and optical properties measured on our films tend to demonstrate the suitability of in situ grown PZT films for optical applications.Lire moins >
Lire la suite >Pb(Zr0.6,Ti0.4)O3 (PZT) thin films are grown in situ on LaAlO3 substrates by rf magnetron sputtering. The relationship between structural and optical properties is investigated as a function of growth temperature. The ferroelectric films exhibit satisfying crystallization with epitaxial growth from 475 °C. The optical refractive index value is 2.558, in agreement with the bulk value. The films show homogeneous structure and the squarelike shape of the index profile along with the PZT thickness suggests a good interface quality with the substrate. The crystallographic and optical properties measured on our films tend to demonstrate the suitability of in situ grown PZT films for optical applications.Lire moins >
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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