Diagnosis of trapping phenomena in GaN MESFET's

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Diagnosis of trapping phenomena in GaN MESFET's
Author(s) :
Meneghesso, G. [Auteur]
Chini, A. [Auteur]
Zanoni, E. [Auteur]
Manfredi, M. [Auteur]
Pavesi, M. [Auteur]
Boudart, B. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Start date of the conference :
2000
Book title :
Proceedings of the 2000 International Electron Devices Meeting, IEDM 2000
Publisher :
IEEE, Piscataway, NJ, USA
Publication date :
2000
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL