Title :

Strain mapping of V-groove InGaAs/GaAs strained quantum wires using cross sectional Atomic Force Microscopy

Author(s) :

Lelarge, F. [Auteur]
Priester, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Constantin, C. [Auteur]
Rudra, A. [Auteur]
Leifer, K. [Auteur]
Kapon, E. [Auteur]

Journal title :

Applied Surface Science

Pages :

290-294

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2000

ISSN :

0169-4332

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL