Defect assisted tunneling current : a ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Defect assisted tunneling current : a revised interpretation of scanning tunneling spectroscopy measurements
Auteur(s) :
Grandidier, Bruno [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
de La Broïse, X. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Delerue, Christophe [Auteur]
Lannoo, M. [Auteur]
Stellmacher, M. [Auteur]
Bourgoin, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
de La Broïse, X. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Delerue, Christophe [Auteur]
Lannoo, M. [Auteur]
Stellmacher, M. [Auteur]
Bourgoin, J. [Auteur]
Titre de la revue :
Applied Physics Letters
Pagination :
3142-3144
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2000
ISSN :
0003-6951
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :