Monte Carlo method for the investigation ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Monte Carlo method for the investigation of electron diffusion in degenerate semiconductors
Author(s) :
Borowik, P. [Auteur]
Thobel, Jean-Luc [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Thobel, Jean-Luc [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Journal of Applied Physics
Pages :
329-333
Publisher :
American Institute of Physics
Publication date :
2000
ISSN :
0021-8979
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :