Monte Carlo method for the investigation ...

Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Monte Carlo method for the investigation of electron diffusion in degenerate semiconductors
Auteur(s) :
Borowik, P. [Auteur]
Thobel, Jean-Luc [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Journal of Applied Physics
Pagination :
329-333
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2000
ISSN :
0021-8979
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL