Titre :

Strain, size and composition of InAs quantum sticks, embedded in InP, determined via X-ray anomalous diffraction and diffraction anomalous fine structure in grazing incidence

Auteur(s) :

Letoublon, A. [Auteur]
Favre-Nicolin, V. [Auteur]
Université Joseph Fourier - Grenoble 1 [UJF]
Renevier, Hubert [Auteur]
Université Joseph Fourier - Grenoble 1 [UJF]
Proletti, M.G. [Auteur]
Monat, C. [Auteur]
Laboratoire d'électronique, optoélectronique et microsystèmes [LEOM]
Gendry, M. [Auteur]
Laboratoire d'électronique, optoélectronique et microsystèmes [LEOM]
Marty, O. [Auteur]
Laboratoire d'Electronique, Nanotechnologies, Capteurs [LENAC]
Priester, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Éditeur :

Elsevier

Date de publication :

2005

Discipline(s) HAL :

Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

Date de dépôt :

2021-07-27T21:29:33Z