Static measurements of GaN MESFETs on (111) ...

Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Static measurements of GaN MESFETs on (111) Si substrates
Author(s) :
Hoel, Virginie [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Guhel, Y. [Auteur]
Boudart, B. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur] refId
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur] refId
Lahreche, H. [Auteur]
Gibart, P. [Auteur]
Journal title :
Electronics Letters
Pages :
1095-1096
Publisher :
IET
Publication date :
2001
ISSN :
0013-5194
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL