Current instabilities in GaN-based devices
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Current instabilities in GaN-based devices
Author(s) :
Daumiller, I. [Auteur]
Théron, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Vescan, A. [Auteur]
Dietriech, R. [Auteur]
Wieszt, A. [Auteur]
Leier, H. [Auteur]
Vetury, R. [Auteur]
Mishra, U.K. [Auteur]
Schmorkova, I.P. [Auteur]
Keller, S. [Auteur]
Nguyen, N.X. [Auteur]
Nguyen, Cong Tu [Auteur]
Kohn, E. [Auteur]
Théron, Didier [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gaquiere, Christophe [Auteur]

Vescan, A. [Auteur]
Dietriech, R. [Auteur]
Wieszt, A. [Auteur]
Leier, H. [Auteur]
Vetury, R. [Auteur]
Mishra, U.K. [Auteur]
Schmorkova, I.P. [Auteur]
Keller, S. [Auteur]
Nguyen, N.X. [Auteur]
Nguyen, Cong Tu [Auteur]
Kohn, E. [Auteur]
Journal title :
IEEE Electron Device Letters
Pages :
62-64
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2001
ISSN :
0741-3106
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :