Etude par EFM de la charge/décharge d'îlots ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Etude par EFM de la charge/décharge d'îlots semiconducteurs de taille nanométrique
Author(s) :
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Conference title :
Journées d'utilisateurs nanoscope
City :
Dijon
Country :
France
Start date of the conference :
2001
Publication date :
2001
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :