Etude par EFM de la charge/décharge d'îlots ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Etude par EFM de la charge/décharge d'îlots semiconducteurs de taille nanométrique
Auteur(s) :
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
Journées d'utilisateurs nanoscope
Ville :
Dijon
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2001
Date de publication :
2001
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :