Relationship between surface reconstruction ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Relationship between surface reconstruction and morphology of strained Ga1-xInxP layers grown on GaP(001) by gas source molecular beam epitaxy
Author(s) :
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Mollot, F. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Mollot, F. [Auteur]
Journal title :
Applied Physics Letters
Pages :
2961-2963
Publisher :
American Institute of Physics
Publication date :
2001
ISSN :
0003-6951
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :