Microwave radiometry as a way to measure ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Microwave radiometry as a way to measure and control the temperature in industrial process
Auteur(s) :
Dubois, Luc [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Sozanski, J.P. [Auteur]
Camart, J.C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Chive, M. [Auteur]
Pribetich, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Sozanski, J.P. [Auteur]
Camart, J.C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Chive, M. [Auteur]
Pribetich, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
Progress in Electromagnetics Research Symposium, PIERS 2001
Ville :
Osaka
Pays :
Japon
Date de début de la manifestation scientifique :
2001
Date de publication :
2001
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :