Etude par EFM des propriétés de charge d'ilots semiconducteurs de taille nanométrique

Document type :

Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes

Title :

Author(s) :

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]

Conference title :

Forum des microscopies à sonde locale

City :

Spa

Country :

Belgique

Start date of the conference :

2002

Publication date :

2002

Language :

Français

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

Source :

Etude par EFM des propriétés de charge ... BibTeX CSV Excel RIS