Adhesive forces investigation on a silicon ...

Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/52992
Titre :
Adhesive forces investigation on a silicon tip by contact mode atomic force microscope
Auteur(s) :
Agache, V. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Legrand, Bernard [Auteur]
Collard, D. [Auteur]
Buchaillot, L. [Auteur]
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2002
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
Date de dépôt :
2021-07-27T22:02:07Z