A combined RHEED and photoemission comparison ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
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Title :
A combined RHEED and photoemission comparison of the GaP and InP (001) (2x4) surface reconstructions
Author(s) :
Wallart, X. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2002
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :
Submission date :
2021-07-27T22:06:01Z