Title :

Détection d'endommagement dans les matériaux composites par ondes de Lamb et coefficients d'ondelettes

Author(s) :

Paget, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Grondel, Sébastien [Auteur]
Levin, K. [Auteur]
Delebarre, Christophe [Auteur]

Journal title :

Instrumentation, Mesure, Métrologie

Pages :

261-287

Publisher :

Lavoisier

Publication date :

2003

ISSN :

1631-4670

Language :

Français

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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