Un modèle analytique et quantitatif pour ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Un modèle analytique et quantitatif pour la microscopie à force électrique de nanoparticules chargées sur substrats conducteurs
Author(s) :
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Diesinger, H. [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Conference title :
Forum des microscopies à sonde locale
City :
Montpellier
Country :
France
Start date of the conference :
2003
Publication date :
2003
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL