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Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
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Auteur(s) :
Vanmaekelbergh, Daniel [Auteur]
Roest, Aarnoud L. [Auteur]
Germeau, Alexander [Auteur]
Kelly, John J. [Auteur]
Meulenkamp, Eric A. [Auteur]
Allan, Guy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Delerue, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Roest, Aarnoud L. [Auteur]
Germeau, Alexander [Auteur]
Kelly, John J. [Auteur]
Meulenkamp, Eric A. [Auteur]
Allan, Guy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Delerue, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Physical Review Letters
Pagination :
169704/1
Éditeur :
American Physical Society
Date de publication :
2003
ISSN :
0031-9007
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :