About the measurements of the d33 piezoelectric ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
About the measurements of the d33 piezoelectric coefficient of the PZT film-Si/SiO2/Ti/Pt substrates using an optical cryostat
Auteur(s) :
Nosek, J. [Auteur]
Burianova, L. [Auteur]
Sulc, M. [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Cattan, Eric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Burianova, L. [Auteur]
Sulc, M. [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Cattan, Eric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Titre de la revue :
Ferroelectrics
Pagination :
103-109
Éditeur :
Taylor & Francis: STM, Behavioural Science and Public Health Titles
Date de publication :
2003
ISSN :
0015-0193
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :