Feedback of MEMS reliability study on the ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Feedback of MEMS reliability study on the design stage : a step toward reliability aided design (RAD)
Auteur(s) :
Buchaillot, Lionel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Microelectronics Reliability
Pagination :
1919-1928
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2003
ISSN :
0026-2714
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :