Caractérisation électro-opique de composants ...
Type de document :
Partie d'ouvrage
Titre :
Caractérisation électro-opique de composants térahertz par échantillonnage Franz-Keldysh subpicoseconde
Auteur(s) :
Desplanque, Ludovic [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Date de publication :
2003
Langue :
Français
Audience :
Non spécifiée
Source :