Title :

Reliability investigation of gallium nitride HEMT microelectronics reliability

Author(s) :

Sozza, A. [Auteur]
Dua, C. [Auteur]
Morvan, E. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur]
Delage, S.L. [Auteur]
Chaturvedi, N. [Auteur]
Lossy, R. [Auteur]
Wuerfl, J. [Auteur]

Journal title :

Microelectronics Reliability

Pages :

1369-1373

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2004

ISSN :

0026-2714

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL