• English
    • français
  • Help
  •  | 
  • Contact
  •  | 
  • About
  •  | 
  • Login
  • HAL portal
  •  | 
  • Pages Pro
  • EN
  •  / 
  • FR
View Item 
  •   LillOA Home
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • View Item
  •   LillOA Home
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Reliability investigation of gallium nitride ...
  • BibTeX
  • CSV
  • Excel
  • RIS

Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Reliability investigation of gallium nitride HEMT microelectronics reliability
Author(s) :
Sozza, A. [Auteur]
Dua, C. [Auteur]
Morvan, E. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur] refId
Delage, S.L. [Auteur]
Chaturvedi, N. [Auteur]
Lossy, R. [Auteur]
Wuerfl, J. [Auteur]
Journal title :
Microelectronics Reliability
Pages :
1369-1373
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2004
ISSN :
0026-2714
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Université de Lille

Mentions légales
Université de Lille © 2017