Reliability investigation of gallium nitride ...
Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Reliability investigation of gallium nitride HEMT microelectronics reliability
Author(s) :
Sozza, A. [Auteur]
Dua, C. [Auteur]
Morvan, E. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur]
Delage, S.L. [Auteur]
Chaturvedi, N. [Auteur]
Lossy, R. [Auteur]
Wuerfl, J. [Auteur]
Dua, C. [Auteur]
Morvan, E. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur]
Delage, S.L. [Auteur]
Chaturvedi, N. [Auteur]
Lossy, R. [Auteur]
Wuerfl, J. [Auteur]
Journal title :
Microelectronics Reliability
Pages :
1369-1373
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2004
ISSN :
0026-2714
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :