Title :

Influence of the PCB traces of an automotive electronic equipment in the case of random cable harnesses

Author(s) :

Egot, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Klingler, M. [Auteur]
Kone, L. [Auteur]
Baranowski, S. [Auteur]
Demoulin, B. [Auteur]

Start date of the conference :

2005

Book title :

Proceedings of the 16th International Zurich Symposium on EMC

Publisher :

IEEE, Piscataway, NJ, USA

Publication date :

2005

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL