Impact of downscaling on high-frequency ...

Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Impact of downscaling on high-frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs
Auteur(s) :
Pailloncy, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Raynaud, C. [Auteur]
Vanmackelberg, M. [Auteur]
Danneville, François [Auteur] refId
lepilliet, sl [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pagination :
1605-1612
Éditeur :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Date de publication :
2004
ISSN :
0018-9383
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
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