Etude par microscopie à champ proche de ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Etude par microscopie à champ proche de structures à base de matériaux III-N pour émetteurs électroniques planaires
Author(s) :
Barbet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Aubry, Raphaël [Auteur]
Thales Research and Technology [Palaiseau]
Di Forte-Poisson, Marie-Antoinette [Auteur]
Thales Research and Technology [Palaiseau]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Aubry, Raphaël [Auteur]
Thales Research and Technology [Palaiseau]
Di Forte-Poisson, Marie-Antoinette [Auteur]
Thales Research and Technology [Palaiseau]
Melin, Thierry [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
10èmes Journées de la Matière Condensée
City :
Toulouse
Country :
France
Start date of the conference :
2006-08-28
Publication date :
2006
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :