Effective dielectric constant of nanostructured ...

Type de document :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1063/1.2198814
Titre :
Effective dielectric constant of nanostructured Si layers
Auteur(s) :
Delerue, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Allan, Guy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Applied Physics Letters
Pagination :
173117-1-3
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2006
ISSN :
0003-6951
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Résumé en anglais : [en]
We calculate the dielectric response of single layers of cubic and spherical Si nanocrystals using a self-consistent tight binding approach. We show that the effective dielectric constant is strongly influenced by the ...
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Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL