• English
    • français
  • Help
  •  | 
  • Contact
  •  | 
  • About
  •  | 
  • Login
  • HAL portal
  •  | 
  • Pages Pro
  • EN
  •  / 
  • FR
View Item 
  •   LillOA Home
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • View Item
  •   LillOA Home
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

HF characterization of CNTFET
  • BibTeX
  • CSV
  • Excel
  • RIS

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
HF characterization of CNTFET
Author(s) :
Happy, Henri [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bethoux, Jean-Marc [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Siligaris, Alexandre [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Borghetti, Jean-Sébastien [Auteur]
Derycke, Vincent [Auteur]
Laboratoire d'Electronique Moléculaire [LEM]
Bourgoin, Jean-Philippe [Auteur]
Conference title :
IEEE Radio and Wireless Symposium, RWS 2006, Workshop 'Nanostructure: RF Characterization, modeling and applications'
City :
San Diego, CA
Country :
Etats-Unis d'Amérique
Start date of the conference :
2006
Publication date :
2006
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Université de Lille

Mentions légales
Université de Lille © 2017