Title :

HF characterization of CNTFET

Author(s) :

Happy, Henri [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bethoux, Jean-Marc [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Siligaris, Alexandre [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Borghetti, Jean-Sébastien [Auteur]
Derycke, Vincent [Auteur]
Laboratoire d'Electronique Moléculaire [LEM]
Bourgoin, Jean-Philippe [Auteur]

Conference title :

IEEE Radio and Wireless Symposium, RWS 2006, Workshop 'Nanostructure: RF Characterization, modeling and applications'

City :

San Diego, CA

Country :

Etats-Unis d'Amérique

Start date of the conference :

2006

Publication date :

2006

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL