A Monte Carlo investigation of the RF ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
A Monte Carlo investigation of the RF performance of partially-depleted SOI MOSFETs
Author(s) :
Rengel, R. [Auteur]
Martin, M.J. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Martin, M.J. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Journal title :
Semiconductor Science and Technology
Pages :
273-278
Publisher :
IOP Publishing
Publication date :
2006
ISSN :
0268-1242
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :