A microscopic interpretation of the RF ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
A microscopic interpretation of the RF noise performance of fabricated FDSOI MOSFETs
Auteur(s) :
Rengel, R. [Auteur]
Martin, M.J. [Auteur]
Gonzalez, T. [Auteur]
Mateos, J. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Raskin, J.P. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Martin, M.J. [Auteur]
Gonzalez, T. [Auteur]
Mateos, J. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Raskin, J.P. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pagination :
523-532
Éditeur :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Date de publication :
2006
ISSN :
0018-9383
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :