Étude du pouvoir thermoélectrique de couches ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Étude du pouvoir thermoélectrique de couches de polysilicium dopées N et P de 20 à 450 °C
Author(s) :
Aithammouda, Malika [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ziouche, Katir [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Haffar, Mehdi [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Godts, Pascale [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Leclercq, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ziouche, Katir [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Haffar, Mehdi [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Godts, Pascale [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Leclercq, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Scientific editor(s) :
Alexandre Vautier, Sylvie Saget
Conference title :
MajecSTIC 2005 : Manifestation des Jeunes Chercheurs francophones dans les domaines des STIC
Conference organizers(s) :
IRISA – IETR – LTSI
City :
Rennes
Start date of the conference :
2005-11-16
Publication date :
2005-11-16
Keyword(s) :
microcapteurs
flux thermique
pouvoir thermoélectrique
tension Seebeck
polysilicium
microtechnologie.
microtechnologie
flux thermique
pouvoir thermoélectrique
tension Seebeck
polysilicium
microtechnologie.
microtechnologie
HAL domain(s) :
Informatique [cs]/Autre [cs.OH]
French abstract :
L'objectif de cette étude est de mettre au point des microthermocouples en polysilicium dopé dont le pouvoir thermoélectrique est pratiquement indépendant de la température de 20 à 450 °C. Cette caractéristique est ...
Show more >L'objectif de cette étude est de mettre au point des microthermocouples en polysilicium dopé dont le pouvoir thermoélectrique est pratiquement indépendant de la température de 20 à 450 °C. Cette caractéristique est indispensable pour réaliser des microcapteurs de flux thermique de sensibilité quasiconstante dans toute la gamme d'utilisation. Dans ce but des cellules thermoélectriques spécifiques ont été réalisées à partir de couches de polysilicium dopées N et P. Les dopants bore et arsenic ont été choisis car ils procurent des coefficients de température de signes opposés. Pour déterminer les valeurs idéales de dopage un système de mesure du pouvoir thermoélectrique en fonction de la température a été développé au laboratoire. Les caractéristiques des couches thermoélectriques réalisées sont présentées dans cet article.Show less >
Show more >L'objectif de cette étude est de mettre au point des microthermocouples en polysilicium dopé dont le pouvoir thermoélectrique est pratiquement indépendant de la température de 20 à 450 °C. Cette caractéristique est indispensable pour réaliser des microcapteurs de flux thermique de sensibilité quasiconstante dans toute la gamme d'utilisation. Dans ce but des cellules thermoélectriques spécifiques ont été réalisées à partir de couches de polysilicium dopées N et P. Les dopants bore et arsenic ont été choisis car ils procurent des coefficients de température de signes opposés. Pour déterminer les valeurs idéales de dopage un système de mesure du pouvoir thermoélectrique en fonction de la température a été développé au laboratoire. Les caractéristiques des couches thermoélectriques réalisées sont présentées dans cet article.Show less >
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :
Files
- https://hal.inria.fr/inria-00000730/document
- Open access
- Access the document
- https://hal.inria.fr/inria-00000730/document
- Open access
- Access the document
- https://hal.inria.fr/inria-00000730/document
- Open access
- Access the document
- document
- Open access
- Access the document
- 26.pdf
- Open access
- Access the document