A new method for on wafer noise measurement

Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
10.1109/22.223734
Title :
A new method for on wafer noise measurement
Author(s) :
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Institut de recherche sur la biologie de l'insecte [IRBI]
Happy, Henri [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Cappy, Alain [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Pages :
375-381
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
1993
ISSN :
0018-9480
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL