Title :

Inkjet printed flexible transmission lines for high frequency applications up to 67 GHz

Author(s) :

Belhaj, Mohamed Moez [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wei, Wei [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pallecchi, Emiliano [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mismer, Colin [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Roch-Jeune, Isabelle [Auteur]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Happy, Henri [Auteur]
Carbon - IEMN [CARBON - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

44th European Microwave Conference and 9th European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMC/EuMIC 2014

City :

Rome

Country :

Italie

Start date of the conference :

2014-10-06

Book title :

2014 44th European Microwave Conference

Publisher :

IEEE

Publication date :

2014

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

English abstract : [en]

This letter introduces radio frequency(RF) characterization of ink-jet printed coplanar waveguides (CPW) with and without strain. Kapton is selected as flexible substrate with different sintering temperature. With optimized ...
Show more >This letter introduces radio frequency(RF) characterization of ink-jet printed coplanar waveguides (CPW) with and without strain. Kapton is selected as flexible substrate with different sintering temperature. With optimized inkjet printing parameters, well defined patterns with high resolution yield low attenuation constant even when operated up to 67GHz. Finally, we demonstrate that the RF performance of CPW is barely affected by bending.Show less >

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL