Non-linear analysis of a broadband power ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Non-linear analysis of a broadband power amplifier at 300 GHz
Auteur(s) :
Ghanem, Haitham [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Schoch, Benjamin [Auteur]
Kallfass, Ingmar [Auteur]
Universität Stuttgart [Stuttgart]
Szriftgiser, Pascal [Auteur]
Laboratoire de Physique des Lasers, Atomes et Molécules - UMR 8523 [PhLAM]
Zegaoui, Malek [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zaknoune, Mohammed [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Schoch, Benjamin [Auteur]
Kallfass, Ingmar [Auteur]
Universität Stuttgart [Stuttgart]
Szriftgiser, Pascal [Auteur]
Laboratoire de Physique des Lasers, Atomes et Molécules - UMR 8523 [PhLAM]
Zegaoui, Malek [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zaknoune, Mohammed [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
15th European Microwave Integrated Circuits Conference, Session EuMIC12 - Design and Characterisation Techniques,
Ville :
Utrecht
Pays :
Pays-Bas
Date de début de la manifestation scientifique :
2021-01-11
Titre de la revue :
Proceedings of the 15th European Microwave Integrated Circuits Conference
Date de publication :
2021
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Résumé en anglais : [en]
In this article we present a new method to measure the third-order intercept point (IP3) of a 300 GHz medium power amplifier MMIC based on III-V technology in an on-wafer measurement setup. The extraction was carried out ...
Lire la suite >In this article we present a new method to measure the third-order intercept point (IP3) of a 300 GHz medium power amplifier MMIC based on III-V technology in an on-wafer measurement setup. The extraction was carried out using a uni-travelling carrier photodiode as the input signal source. Taking advantage of the photo-mixing phenomena we were able to generate two input RF signals using the same source, where these signals are used to extract the IP3 parameter of the MPA around 300 GHz. The PA with a small-signal gain of 18 dB achieves an input-related IP3 of -0.5 dBm at 300 GHz in the two-tone measurement with a tone spacing of 2 GHz.Lire moins >
Lire la suite >In this article we present a new method to measure the third-order intercept point (IP3) of a 300 GHz medium power amplifier MMIC based on III-V technology in an on-wafer measurement setup. The extraction was carried out using a uni-travelling carrier photodiode as the input signal source. Taking advantage of the photo-mixing phenomena we were able to generate two input RF signals using the same source, where these signals are used to extract the IP3 parameter of the MPA around 300 GHz. The PA with a small-signal gain of 18 dB achieves an input-related IP3 of -0.5 dBm at 300 GHz in the two-tone measurement with a tone spacing of 2 GHz.Lire moins >
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Source :