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The V ( z ) Inversion Technique for ...
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Type de document :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1088/0256-307X/32/12/124303
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/58018
Titre :
The V ( z ) Inversion Technique for Evaluation of an Adhesively Bonded Structure
Auteur(s) :
Liu, Jing [Auteur]
Tongji University
Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201 [LAMIH]
Xu, Wei-Jiang [Auteur]
Hu, Wen-Xiang [Auteur]
Tongji University
Ourak, Mohamed [Auteur]
Dubois, André [Auteur]
Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201 [LAMIH]
Titre de la revue :
Chinese Physics Letters
Pagination :
124303
Éditeur :
IOP Publishing
Date de publication :
2015-12-01
ISSN :
0256-307X
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Mécanique [physics.med-ph]
Résumé en anglais : [en]
Based on the fact that the evolution trace in incident angle and frequency of the resonance zeros of the reflection coefficient function for a water charged layered medium is equivalent to its guided wave mode dispersion, ...
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Based on the fact that the evolution trace in incident angle and frequency of the resonance zeros of the reflection coefficient function for a water charged layered medium is equivalent to its guided wave mode dispersion, the interfacial adhesion of a three-layer aluminum–adhesive–aluminum bonding structure is characterized nondestructively by determining the interface shear stiffness kt associated with the interfacial strength. The resonance reflection function is obtained experimentally by the V(z) inversion technique using an ultrasonic focused transducer of wide-band and large angular aperture (up to ±45°). The dispersion curves are numerically calculated, adjusting the parameter kt so that the difference between the dispersion curves and the angular-frequency tracing of the reflection zeros is minimum. The parameter kt at an interface of weakly adhered aluminum epoxy-resin is estimated to be 1014 N/m3.Lire moins >
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Commentaire :
IF=0.947
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Date de dépôt :
2021-11-27T05:00:41Z
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