Title :

Defect assisted subwavelength resolution in III–V semiconductor photonic crystal flat lenses with n=−1

Author(s) :

Hofman, Maxence [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Fabre, Nathalie [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Mélique, Xavier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Lippens, Didier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Vanbésien, Olivier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]

Journal title :

Optics Communications

Pages :

1169-1173

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2010-03

ISSN :

0030-4018

HAL domain(s) :

Physique [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL