Defect assisted subwavelength resolution ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Defect assisted subwavelength resolution in III–V semiconductor photonic crystal flat lenses with n=−1
Auteur(s) :
Hofman, Maxence [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Fabre, Nathalie [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Melique, Xavier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Lippens, Didier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Vanbesien, Olivier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Fabre, Nathalie [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Melique, Xavier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Lippens, Didier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Vanbesien, Olivier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Titre de la revue :
Optics Communications
Pagination :
1169-1173
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2010-03
ISSN :
0030-4018
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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