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Defect assisted subwavelength resolution ...
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Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1016/j.optcom.2009.10.116
Title :
Defect assisted subwavelength resolution in III–V semiconductor photonic crystal flat lenses with n=−1
Author(s) :
Hofman, Maxence [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Fabre, Nathalie [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Mélique, Xavier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Lippens, Didier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Vanbésien, Olivier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Journal title :
Optics Communications
Pages :
1169-1173
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2010-03
ISSN :
0030-4018
HAL domain(s) :
Physique [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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