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Spatial resolution enhancement of near ...
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Document type :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/EuMC.2016.7824400
Title :
Spatial resolution enhancement of near field microwave microscope
Author(s) :
Gu, S. [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lin, Tianjun [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, T. [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
46th European Microwave Conference, EuMC 2016
City :
London
Country :
Royaume-Uni
Start date of the conference :
2016-10-04
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Publication date :
2016
English keyword(s) :
2D imaging
Evanescent microwave probe
Near-field scanning microwave microscope
Spatial resolution
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
English abstract : [en]
A near-field scanning microwave microscope based on an interferometric technique is proposed in this work. To ensure an optimal spatial resolution, crucial parameters of the evanescent microwave probe are finely studied ...
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A near-field scanning microwave microscope based on an interferometric technique is proposed in this work. To ensure an optimal spatial resolution, crucial parameters of the evanescent microwave probe are finely studied including the tip apex, the stand-off distance and the scanning step size. © 2016 EuMA.Show less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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