High frequency diffuse acoustic field ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
Title :
High frequency diffuse acoustic field correlation for defect detection in layer-on-substrate structures
Author(s) :
Ben Jafela, Nada [Auteur]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Chehami, Lynda [Auteur]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fall, Dame [Auteur]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Duquennoy, Marc [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Moulin, Emmanuel [Auteur]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Smagin, Nikolay [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Chehami, Lynda [Auteur]

Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fall, Dame [Auteur]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Duquennoy, Marc [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Moulin, Emmanuel [Auteur]

Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Smagin, Nikolay [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
Mardi des chercheurs 2023
Conference organizers(s) :
UPHF
UMons
UMons
City :
Valenciennes
Country :
France
Start date of the conference :
2023-06-13
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Acoustique [physics.class-ph]
English abstract : [en]
This thesis is a part of the ANR DACLOS project whose objective is to develop a non-destructive inspection method based on an acoustic field correlation to image layer on substrate structures. This project aims to detecting ...
Show more >This thesis is a part of the ANR DACLOS project whose objective is to develop a non-destructive inspection method based on an acoustic field correlation to image layer on substrate structures. This project aims to detecting and imaging defects by combining optical detection with the surface acoustic wave correlation approachShow less >
Show more >This thesis is a part of the ANR DACLOS project whose objective is to develop a non-destructive inspection method based on an acoustic field correlation to image layer on substrate structures. This project aims to detecting and imaging defects by combining optical detection with the surface acoustic wave correlation approachShow less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Nationale
Popular science :
Non
Source :