Overcoming Traditional Challenges in ...
Document type :
Article dans une revue scientifique
Permalink :
Title :
Overcoming Traditional Challenges in Nano-scale X-ray Characterization Using Independent Component Analysis
Author(s) :
Rossouw, David [Auteur]
Burdet, Pierre [Auteur]
de la Pena, Francisco [Auteur]
Ducati, Caterina [Auteur]
Knappett, Benjamin R. [Auteur]
Wheatley, Andrew E. H. [Auteur]
Midgley, Paul A. [Auteur]
Burdet, Pierre [Auteur]
de la Pena, Francisco [Auteur]
Ducati, Caterina [Auteur]
Knappett, Benjamin R. [Auteur]
Wheatley, Andrew E. H. [Auteur]
Midgley, Paul A. [Auteur]
Journal title :
Microscopy and Microanalysis
Abbreviated title :
Microsc Microanal
Volume number :
21
Pages :
1227-1228
Publisher :
Oxford University Press (OUP)
Publication date :
2015-08
Language :
Anglais
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Administrative institution(s) :
Université de Lille
CNRS
INRAE
ENSCL
CNRS
INRAE
ENSCL
Collections :
Submission date :
2024-02-01T14:10:27Z