Titre :

Short-term reliability assessment of sub-micron thick AlN/GaN-on-Silicon HEMTs grown by MBE for RF applications

Auteur(s) :

Carneiro, Elodie [Auteur]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Ben Hammou, L. [Auteur]
Rennesson, S. [Auteur]
Okada, Etienne [Auteur]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Semond, Fabrice [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Medjdoub, Farid [Auteur]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

Compound Semiconductor Week (CSW)

Ville :

Lund

Pays :

Suède

Date de début de la manifestation scientifique :

2024-06-03

Titre de l’ouvrage :

Proceeding of Compound Semiconductor Week 2024

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Projet ANR :

Réseau national sur GaN

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL