Titre :

Growth and characterization of perovskite BaTiO3 thin film for optics and photonics applications

Auteur(s) :

Al Meselmene, Nour [Auteur]
Agency for science, technology and research [Singapore] [A*STAR]
Nemati, Arash [Auteur]
Agency for science, technology and research [Singapore] [A*STAR]
Ji Sheng, Pan [Auteur]
Agency for science, technology and research [Singapore] [A*STAR]
Yuanda, Liu [Auteur]
Agency for science, technology and research [Singapore] [A*STAR]
Dogheche, Karim [Auteur]
Université Polytechnique Hauts-de-France [UPHF]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN [MAMINA - IEMN]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN [MAMINA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Teng, Jinghua [Auteur]
Agency for science, technology and research [Singapore] [A*STAR]

Titre de la manifestation scientifique :

Nanoengineering: Fabrication, Properties, Optics, Thin Films, and Devices XXI

Ville :

San Diego

Pays :

Etats-Unis d'Amérique

Date de début de la manifestation scientifique :

2024-08-18

Éditeur :

SPIE

Discipline(s) HAL :

Physique [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]

Résumé en anglais : [en]

A tetragonal barium titanate (BTO) thin film of high crystal quality with a c-axis oriented out of the plane was successfully grown at 500℃ on the strontium titanate(100) substrate using the physical vapor deposition ...
Lire la suite >A tetragonal barium titanate (BTO) thin film of high crystal quality with a c-axis oriented out of the plane was successfully grown at 500℃ on the strontium titanate(100) substrate using the physical vapor deposition technique. It showed epitaxial growth with a dense morphology and a low full width at half maximum value (FWHM) of 0.5° in the X-ray diffraction spectroscopy rocking curve measurements of the BTO(002) reflection. Using a modified Sénarmont method, the birefringence measurement of the BTO film revealed that it predominantly exhibits a quadratic and asymmetric electrooptic (EO) behavior in response to the applied DC electric field with an effective EO coefficient value of 1.94 × 10-19 m2/V2, providing useful insights on the BTO growth and its potential optoelectronics applications.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

Date de dépôt :

2024-11-26T04:02:31Z