Iterative Kriging-based Methods for Expensive ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1109/TMAG.2017.2767706
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/20710
Title :
Iterative Kriging-based Methods for Expensive Black-Box Models
Author(s) :
DENG, Siyang [Auteur]
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
El Bechari, Reda [Auteur] refId
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Brisset, stéphane [Auteur] refId
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Clenet, Stephane [Auteur] refId
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Journal title :
Ieee Transactions on Magnetics
Pages :
1-4
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2018
ISSN :
0018-9464
English keyword(s) :
Infill sampling criteria
Kriging model
Reliability analysis
Reliability based design method
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Energie électrique
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Oui
Collections :
Research team(s) :
Équipe Outils et Méthodes Numériques
Submission date :
2020-05-15T13:32:12Z
2022-01-13T10:06:10Z
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VersionLinkModification date
220.500.12210/20710*2022-01-13T10:05:13Z
120.500.12210/20710.12020-05-15T13:32:12Z

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