Évaluation de la fiabilité des composants ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Évaluation de la fiabilité des composants HEMTs AlGaN / GaN à grille nanométrique sur substrat de silicium par des essais de vieillissement accéléré « on-state »
Auteur(s) :
Lakhdar, Hadhemi [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Labat, Nathalie [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Curutchet, Arnaud [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Defrance, Nicolas [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lesecq, Marie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Malbert, Nathalie [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Labat, Nathalie [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Curutchet, Arnaud [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Defrance, Nicolas [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lesecq, Marie [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Malbert, Nathalie [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Titre de la manifestation scientifique :
JNM 2017
Ville :
Saint Malo
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2017-05-16
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Source :