Title :

Hot-Carrier Noise under Degenerate Conditions

Author(s) :

Tadyszak, P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cappy, Alain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Reggiani, L. [Auteur]
Varani, L. [Auteur]
Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier [CEM2]
Rota, L. [Auteur]
Clarendon Laboratory [Oxford]

Conference title :

8th International Conference on Hot Carriers in Semiconductors

Conference organizers(s) :

K. Hess, J. P. Leburton and U. Ravaioli

City :

Chicago

Country :

Etats-Unis d'Amérique

Start date of the conference :

1996

Journal title :

Proceedings of the 8th International Conference on Hot Carriers in Semiconductors

Publisher :

Plenum, New York

Publication date :

1996

HAL domain(s) :

Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]
Physique [physics]/Physique [physics]/Physique Numérique [physics.comp-ph]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL