Titre :

Influence d’irradiations neutroniques sur les pièges électriques induits par des stress électriques dans des HEMTs AlInN/GaN

Auteur(s) :

Petitdidier, Sébastien [Auteur]
Guhel, Yannick [Auteur]
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Trolet, Jean Lionel [Auteur]
Ecole des applications militaires de l'énergie atomique [EAMEA]
Mary, P. [Auteur]
Ecole des applications militaires de l'énergie atomique [EAMEA]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Boudart, B. [Auteur]
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072

Titre de la manifestation scientifique :

20es Journées Nationales Microondes

Ville :

Saint Malo

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2017

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique

Langue :

Français

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL