Ink-jet printed flexible gas sensors based ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Ink-jet printed flexible gas sensors based on electromagnetic transduction and carbon materials
Author(s) :
Bahoumina, Prince [Auteur]
Hallil, Hamida [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Lachaud, Jean-Luc [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Dejous, Corinne [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Rebiere, Dominique [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Paragua Macuri, Carlos Alberto [Auteur]
Systèmes RF [XLIM-SRF]
Frigui, Kamel [Auteur]
Systèmes RF [XLIM-SRF]
Bila, Stéphane [Auteur]
Systèmes RF [XLIM-SRF]
Baillargeat, Dominique [Auteur]
Systèmes RF [XLIM-SRF]
Pacchini, Sébastien [Auteur]
Coquet, Philippe [Auteur]
CNRS International - NTU - Thales Research Alliance [CINTRA]
Pichonnat, Emmanuelle [Auteur]
Happy, Henri [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hallil, Hamida [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Lachaud, Jean-Luc [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Dejous, Corinne [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Rebiere, Dominique [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Paragua Macuri, Carlos Alberto [Auteur]
Systèmes RF [XLIM-SRF]
Frigui, Kamel [Auteur]
Systèmes RF [XLIM-SRF]
Bila, Stéphane [Auteur]
Systèmes RF [XLIM-SRF]
Baillargeat, Dominique [Auteur]
Systèmes RF [XLIM-SRF]
Pacchini, Sébastien [Auteur]
Coquet, Philippe [Auteur]

CNRS International - NTU - Thales Research Alliance [CINTRA]
Pichonnat, Emmanuelle [Auteur]
Happy, Henri [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
IEEE Sensors
City :
Busan
Country :
Corée du Sud
Start date of the conference :
2015
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :