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Band offsets at zincblende-wurtzite GaAs ...
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Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
10.1063/1.4821293
Titre :
Band offsets at zincblende-wurtzite GaAs nanowire sidewall surfaces
Auteur(s) :
Capiod, Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Xu, Tao [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nys, Jean-Philippe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Berthe, Maxime [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Patriarche, Gilles [Auteur]
Laboratoire de photonique et de nanostructures [LPN]
Lymperakis, Liverios [Auteur]
Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH
Neugebauer, J. [Auteur]
Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH
Caroff, Philippe [Auteur]
Dunin-Borkowski, Rafal E [Auteur]
Ebert, Philipp [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Applied Physics Letters
Pagination :
122104-1-4
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2013
ISSN :
0003-6951
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Projet ANR :
Centre expérimental pour l'étude des propriétés des nanodispositifs dans un large spectre du DC au moyen Infra-rouge.
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Fichiers
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  • https://openresearch-repository.anu.edu.au/bitstream/1885/15647/1/01_Capiod_Band_offsets_at_2013.pdf
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